Burn In基本流程图
2016-11-17 13:31:26 0 举报
Burn-in测试是一种用于检测电子设备可靠性的测试方法。其基本流程如下:首先,将待测设备置于特定的工作模式下,使其长时间运行;然后,通过观察和记录设备的输出结果,分析其性能是否稳定;接着,根据分析结果,对设备进行必要的调整或优化;最后,再次进行长时间的运行测试,以验证设备的稳定性和可靠性。这种测试方法可以帮助我们发现和解决设备的潜在问题,提高其使用寿命和性能。