芯片验证漫游指南思维导图模板_ProcessOn思维导图、流程图

8 SV组件实现

8.1 激励发生器的驱动

8.1.1 激励驱动的方法

8.1.2 任务和函数

8.1.3 数据生命周期

8.1.4 通过接口驱动

8.1.5 测试向量产生

8.1.6 仿真结束控制

8.2 激励发生器的封装

8.2.1 类的封装

8.2.2 类的继承

8.2.3 成员覆盖

8.2.4 虚方法

8.2.5 句柄使用

8.2.6 对象复制

8.2.7 对象回收

8.3 激励发生器的随机化

8.3.1 可随机的激励种类

8.3.2 约束求解器

8.3.3 随机变量和数组

8.3.4 约束块

8.3.5 随机化控制

8.3.6 随机化的稳定性

8.3.7 随机化的流程控制

8.3.8 随机化的系统函数

8.4 监测器的采样

8.4.1 Interface clocking简介

8.4.2 利用clocking事件同步

8.4.3 利用clocking采样数据

8.4.4 利用clocking产生激励

8.4.5 monitor的采样功能

8.5 组件间的通信

8.5.1 通知的需求

8.5.2 资源共享的需求

8.5.3 数据通信的需求

8.5.4 进程同步的需求

8.5.5 进程通信要素的比较和应用

8.6 比较器和参考模型

8.6.1 异常检查

8.6.2 常规检查

8.6.3 时序检查

8.6.4 组件连接

8.7 测试环境的报告规范

8.7.1 信息报告库

8.7.2 信息库使用场景

8.8 本章结束语

9 SV系统集成

9.1 包的意义

9.2 验证环境的组装

9.2.1 封装验证环境的方式

9.2.2 模块环境的复用考量

9.2.3 比较器的复用考量

9.2.4 顶层环境的实现

9.3 测试场景的生成

9.3.1 动态控制激励

9.3.2 调度多个激励器

9.3.3 线程的精细控制

9.3.4 动态测试向量

9.3.5 向量群落的并发控制

9.4 灵活化的配置

9.4.1 Agent的两面性

9.4.2 各个组件的模式配置

9.4.3 验证结构的集成顺序

9.5 初论环境的复用性

9.5.1 复用的策略

9.5.2 水平复用的应用

9.5.3 垂直复用的应用

9.6 本章结束语

10 UVM世界观

10.1 我们所处的验证时代

10.2 类库地图

10.3 工厂机制

10.3.1 工厂的意义

10.3.2 工厂提供的便利

10.3.3 覆盖方法

10.3.4 确保正确覆盖的代码要求

10.4 核心基类

10.4.1 域的自动化

10.4.2 复制

10.4.3 比较

10.4.4 打印

10.4.5 打包和解包

10.5 phase机制

10.5.1 phase执行机制

10.5.2 如何开始UVM仿真

10.5.3 如何结束UVM仿真

10.6 config机制

10.6.1 interface传递

10.6.2 变量设置

10.6.3 config object传递

10.6.4 config机制

10.6.5 其他配置方法

10.6.6 uvm_resource_db的使用

10.7 消息管理

10.7.1 消息方法

10.7.2 消息处理

10.7.3 消息机制

10.8 宏的优劣探讨

10.9 本章结束语

11 UVM结构

11.1 组件家族

11.1.1 uvm_driver

11.1.2 uvm_monitor

11.1.3 uvm_sequencer

11.1.4 uvm_agent

11.1.5 uvm_scoreboard

11.1.6 uvm_env

11.1.7 uvm_test

11.2 把DUT装进TB分几步

11.2.1 MCDF顶层验证环境方案1

11.2.2 MCDF顶层验证环境方案2

11.3 构建环境的内经

11.3.1 环境构建的四要素

11.3.2 环境元素分类

11.4 本章结束语

12 UVM通信

12.1 TLM通信概论

12.2 单向、双向及多向通信

12.2.1 单向通信

12.2.2 双向通信

12.2.3 多向通信

12.3 通信管道应用

12.3.1 TLM FIFO

12.3.2 Analysis Port

12.3.3 Analysis TLM FIFO

12.3.4 Request &amp; Response 通信管道

12.4 TLM2通信

12.4.1 接口实现

12.4.2 传送数据

12.4.3 时间标记

12.4.4 典型使用

12.5 同步通信元件

12.5.1 uvm_event应用

12.5.2 uvm_barrier应用

12.5.3 uvm_callback应用

12.6 本章结束语

13 UVM序列

13.1 新手上路

13.2 Sequence和Item

13.2.1 Sequence Item

13.2.2 Flat Sequence

13.2.3 Hierarchical Sequence

13.3 Sequencer和Driver

13.3.1 双方的TLM端口和方法

13.3.2 事务传输实例

13.3.3 通信时序

13.4 Sequencer和Sequence

13.4.1 发送sequence及item的方法和宏

13.4.2 sequencer的仲裁特性及应用

13.5 Sequence的层次化

13.5.1 Hierarchical Sequence

13.5.2 Virtual Sequence

13.5.3 Layering Sequence

13.6 本章结束语

14 UVM寄存器

14.1 寄存器模型概览

14.2 寄存器模型的集成

14.2.1 总线UVC的实现

14.2.2 MCDF寄存器模块代码

14.2.3 Adapter的实现

14.2.4 Adapter的集成

14.2.5 前门访问

14.2.6 后门访问

14.2.7 前门访问和后门访问的比较

14.3 寄存器模型的常规方法

14.3.1 mirrored、desired和actual value

14.3.2 prediction的分类

14.3.3 uvm_reg的访问方法

14.3.4 mem与reg的联系和差别

14.3.5 内建sequences

14.4 寄存器模型的场景应用

14.4.1 如何检查寄存器模型

14.4.2 功能覆盖率的实现

14.5 本章结束语

15 验证平台自动化自

15.1 为什么需要一款代码生成器

15.2 UVM Framework

15.3 如何定制一款TB自动化工具

15.3.1 验证环境的自动化创建

15.3.2 测试框架和测试用例的垂直复用

15.3.3 中心化的功能覆盖率管理

15.4 本章结束语

16 跨平台移植复用

16.1 便携激励标准（PSS）

16.2 PSS工具集概览

16.2.1 inFact

16.2.2 Perspec

16.2.3 Breker Trek系列

16.3 跨平台的验证结构考量

16.3.1 virtual prototyping与simulation的混合仿真

16.3.2 virtual prototyping与FPGA prototyping的混合仿真

16.3.3 simulation与emulation的混合仿真

16.3.4 virtual prototyping与emulation的混合仿真

16.4 本章结束语

17 SV及UVM接口应用应

17.1 DPI接口和C测试

17.1.1 总线接口的读写实现

17.1.2 virtual_core类的定义

17.1.3 DPI方法的实现

17.1.4 多核并行处理实现

17.1.5 中断响应的实现

17.2 SystemC与UVM的TLM2通信

17.2.1 UVMC连接

17.2.2 UVM指令API

17.3 MATLAB及Simulink模型与UVM的混合仿真

17.4 脚本语言与UVM的交互

17.4.1 线上控制和线下激励的交互应用

17.4.2 线上控制和线上激励的交互应用

17.5 本章结束语

18 SV及UVM高级话题

18.1 SystemVerilog开源公共库

18.1.1 SV开源库之一：svlib

18.1.2 SV开源库之二：cluelib

18.2 SV单元测试方法SVUnit

18.3 OVM到UVM的移植

18.3.1 OVM代码检视

18.3.2 OVM到UVM的代码自动转换

18.3.3 替换OVM phase方法

18.3.4 替换OVM objection方法

18.3.5 替换OVM configuration方法

18.3.6 添加UVM的新特性

18.4 OVM与UVM的混合仿真

18.4.1 UVM-ML验证框架

18.4.2 OVM兼容层

18.4.3 XVM

18.5 本章结束语

其他

序（一）

序（二）

行业人士评语

1 芯片验证全视

1.1 功能验证简介

1.2 验证的处境

1.2.1 验证语言的发展

1.2.2 验证面临的挑战

1.3 验证能力的5个维度

1.3.1 完备性

1.3.2 复用性

1.3.3 高效性

1.3.4 高产出

1.3.5 代码性能

1.4 验证的任务和目标

1.4.1 按时保质低耗

1.4.2 芯片研发与客户反馈

1.4.3 缺陷增长曲线

1.5 验证的周期

1.5.1 验证周期中的检查点

1.5.2 功能详述

1.5.3 制定验证计划

1.5.4 开发验证环境

1.5.5 调试环境和HDL文件

1.5.6 回归测试

1.5.7 芯片生产

1.5.8 硅后系统测试

1.5.9 逃逸分析

1.6 本章结束语

2 验证的策略

2.1 设计的流程

2.1.1 TLM模型的需求和ESL开发

2.1.2 传统的系统设计流程

2.1.3 ESL系统设计流程

2.1.4 语言的抽象级比较

2.1.5 传统的系统集成视角

2.1.6 ESL系统集成视角

2.2 验证的层次

2.2.1 模块级

2.2.2 子系统级

2.2.3 芯片系统级

2.2.4 硅后系统级

2.3 验证的透明度

2.3.1 黑盒验证

2.3.2 白盒验证

2.3.3 灰盒验证

2.4 激励的原则

2.4.1 接口类型

2.4.2 序列颗粒度

2.4.3 可控性

2.4.4 组件独立性

2.4.5 组合自由度

2.5 检查的方法

2.6 集成的环境

2.6.1 验证平台

2.6.2 待验设计

2.6.3 运行环境

2.6.4 验证管理

2.7 本章结束语

3 验证的方法

3.1 动态仿真

3.1.1 定向测试

3.1.2 随机测试

3.1.3 基于覆盖率驱动的随机验证

3.1.4 基于TLM的随机验证

3.1.5 断言检查

3.2 静态检查

3.2.1 语法检查

3.2.2 语义检查

3.2.3 跨时钟域检查

3.2.4 形式验证

3.3 开发环境

3.3.1 Vim开发环境

3.3.2 商业SV开发环境——DVT

3.4 虚拟模型

3.5 硬件加速

3.6 效能验证

3.6.1 功率和能量

3.6.2 静态功耗和动态功耗

3.6.3 节能技术

3.6.4 效能验证

3.6.5 功耗预测与优化

3.7 性能验证

3.7.1 设定目标

3.7.2 测试环境

3.7.3 验证方法

3.8 趋势展望

3.8.1 技术之间的横向跨越

3.8.2 层次之间的纵向复用

3.9 本章结束语

4 验证的计划

4.1 计划概述

4.2 计划的内容

4.2.1 技术的视角

4.2.2 项目的视角

4.3 计划的实现

4.3.1 邀请相关人员

4.3.2 开会讨论

4.3.3 确定测试场景

4.3.4 创建验证环境

4.4 计划的进程评估

4.4.1 回归测试通过率

4.4.2 代码覆盖率

4.4.3 断言覆盖率

4.4.4 功能覆盖率

4.4.5 缺陷曲线

4.5 本章结束语

5 验证的管理

5.1 验证周期的检查清单

5.2 验证管理的三要素

5.2.1 时间管理

5.2.2 人力资源安排

5.2.3 任务拆分和重组

5.3 验证的收敛

5.3.1 回归流程

5.3.2 回归质量

5.3.3 回归效率

5.4 让漏洞无处可逃

5.5 团队建设

5.6 验证师的培养

5.6.1 全硅能力

5.6.2 不做假设

5.6.3 专注力

5.6.4 逻辑性

5.6.5 “战鼓光环”

5.6.6 降低复杂度

5.7 验证的专业化

5.7.1 对验证的偏见

5.7.2 验证面临的现状

5.7.3 验证标准化

5.7.4 验证经验的积累和突破

5.8 本章结束语

6 验证的结构

6.1 测试平台概述

6.2 硬件设计描述

6.2.1 功能描述

6.2.2 设计结构

6.2.3 接口描述

6.2.4 接口时序

6.2.5 寄存器描述

6.3 激励发生器

6.4 监测器

6.5 比较器

6.6 验证结构

6.6.1 项目背景

6.6.2 MCDF验证进度安排

6.7 本章结束语

7 SV环境构建

7.1 数据类型

7.2 模块定义与例化

7.2.1 模块定义

7.2.2 模块例化

7.2.3 参数使用

7.2.4 参数修改

7.2.5 宏定义

7.3 接口

7.3.1 接口连接方式1

7.3.2 接口连接方式2

7.3.3 接口的其他应用

7.4 程序和模块

7.4.1 Verilog设计竞争问题

7.4.2 SV的仿真调度机制

7.4.3 module数据采样示例1

7.4.4 module数据采样示例2

7.4.5 program数据采样示例

7.5 测试的始终

7.5.1 系统函数调用方式结束

7.5.2 program隐式结束

7.5.3 program显式结束

7.6 本章结束语