18 冲击试验
18.1 诱发冲击的环境
18.2 影响机理和失效模式
18.3 试验目的
18.4 实验室的模拟
18.5 规定标称冲击脉冲波形的方法
18.5.1 三种标称冲击脉冲波形及数学表达式
18.5.2 三种标称(经典)冲击脉冲峰值加速度和脉冲持续时间
18.5.3 试验条件(严酷等级)的选择
18.5.4 对试验设备的要求
18.5.5 试验程序
18.6 规定脉冲波形的碰撞/颠振(多次冲击)试验方法
18.6.1 试验要求
18.6.2 试验程序
18.7 冲击响应谱的方法
18.7.1 冲击响应谱基本概念
18.7.2 合理利用冲击响应谱选择试验所需的冲击脉冲波形
18.7.3 冲击响应试验谱试验示例
18.7.4 GJB 150A中的冲击响应谱
18.7.5 现场冲击的冲击响应谱转换示例
18.8 规定一种冲击机的方法——强碰撞冲击试验
18.8.1 强碰撞冲击试验机
18.8.2 现场水中爆炸冲击和中量级冲击的比较
18.8.3 强碰撞冲击试验的三种程序
18.8.4 轻量级强碰撞冲击试验机标准结构
18.8.5 轻量级试验条件(严酷等级)及其选择
18.8.6 轻量级安装
18.8.7 轻量级试验程序
18.8.8 轻量级强碰撞冲击中的有关试验技术问题
18.9 跌落、倾跌与翻倒试验
18.9.1 自由跌落试验
18.9.2 倾跌与翻倒试验
18.10 各种冲击试验方法在GJB150A中的应用
18.10.1 一般冲击试验方法
18.10.2 爆炸分离冲击
18.10.3 弹道冲击
18.11 重现现场冲击的时间历程
18.12 锤击试验
13 流体污染、密封、浸渍试验
13.1 流体污染试验
13.1.1 试验目的、诱发环境,影响机理、故障和失效模式
13.1.2 流体的种类
13.1.3 试验条件
13.1.4 试验过程
13.1.5 对试验设备的要求
13.1.6 试验设计和试验技术
13.2 密封试验
13.2.1 试验目的、诱发环境、影响机理、故障和失效模式
13.2.2 Qa:衬套、心轴和垫圈
13.2.3 Qc:容器的密封(漏气)
13.2.4 Qd:容器的密封(漏液)
13.2.5 Qf:浸水
13.2.6 Qk:用质谱仪的示踪气体法
13.2.7 Ql:加压浸渍试验
13.2.8 Qm:内部预先加压示踪气体密封试验
13.3 浸渍试验
13.3.1 设备的浸渍试验
13.3.2 印制电路板的浸渍试验