HTOL

HTOL（High-Temperature Operating Life）是一种高温工作寿命测试，用于评估电子元件、半导体器件或集成电路在高温环境下的可靠性和稳定性。通过在特定温度和时间条件下对样品进行持续加热，可以模拟实际应用中可能遇到的极端高温环境。HTOL测试有助于发现潜在的故障机制，提高产品的质量和可靠性，确保其在高温环境中的长期稳定运行。这种测试方法对于航天、汽车、军事和其他高性能应用领域尤为重要，因为这些领域对产品的性能和可靠性要求极高。