入仓流程
2023-05-18 10:14:22 4 举报入仓流程
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大纲/内容
不需要image信息直接解析
入仓
通过
文件初始状态（入仓状态为待入仓、数据处理状态为待解析，重新解析状态为空）
否
结束
通过lotID+InspectionTime+Wafer id判断update还是insert
查询是否有阈值范围内的image
更新数据处理状态为解析成功
解析失败
等待时间范围内是否找到image
开始
判断是否为ADC机台
不通过
判断本批次文件中是否解析成功
是
判断是否为Review机台文件
判断文件大小是否超限
读取文件
从mio中读取文件重新解析
入仓成功后更新入仓状态为入仓成功，数据处理状态为入仓成功
入仓失败
更新重新解析状态为处理中
保留原文件状态
解析/计算
判断是否有原文件记录
解析失败（包括找到原文件记录但原文件解析失败的场景）
解析失败后更新入仓状态为入仓失败、数据处理状态为解析失败，重新解析状态为待处理）
Inspection机台文件
更新重新解析状态为成功
更新状态并入仓
按照设置的频率读取文件并记录读取文件总数
解析/计算成功
重新解析只可以对入仓失败的数据进行操作
读取image信息
失败文件不入仓
更新数据处理状态为解析中
不读取image信息，并反馈“缺失image”
重新解析
入仓成功
等待一定时间直接解析，标记无Inspection文件
对选中文件重新解析
入仓流程
标记有Inspection文件
入仓状态有：待入仓、入仓成功、入仓失败；数据处理状态有待解析、解析中、解析成功、解析失败、入仓成功、入仓失败重新解析状态有待处理、处理中、成功、失败
根据lotID+WaferID(合集)+InspectionTime判断
入仓失败后更新入仓状态为入仓失败，数据处理状态为入仓失败，重新解析状态为待处理
失败
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