考虑损耗的意义:①设计绝缘结构时应注意(过大会发热)<br> ②冲击测量的cab要tanδ小,否则影响精度<br> ③绝缘试验中的基本测量项目
P=U²ωCptanδ
介质损耗主要由电导引起→并联等值电路<br> 极化 →串联等值电路(R比并联的小的多)
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